CSK-IA试块使用

CSK-IA试块的主要作用如下:

测定斜探头入射点

测定斜探头的K值

根据探头折射角的大小，将探头置于试块的不同位置进行测量，如图所示。波形图同于入射点波形图。

测量时，探头应放正使波束中心线与试块侧面平行，前后移动探头，找到50mm孔或1.5mm孔的最高反射波。此时，声束中心线必然与入射点和圆心之间的连线相重合，即声束中心线垂直于孔表面。这时，试块上与入射点相应的角度线所标的值即为该斜探头的K值。

水平线性（时基线性）、垂直线性的检验

水平线性

①选择要调校的仪器和直探头，进行校准，校准完毕后进行下一步。

②将直探头用探头压块压在CSK-IA试块25mm厚的平面上，中间加适量耦合剂，调节仪器使荧光屏显示出6次底波。

③用闸门套住一次底波，调节一次底波为满刻度的50%，显示读数为深度25mm，依次为基准。

④用闸门套取二次波，并调节二次底波为满刻度的50%，记录深度读数。

⑤按第4步依次记录三次，四次，五次、六次波的深度读数

⑥取出5次偏差值的最大值Amax，水平线性偏差值B为(Amax/1.25)%。

垂直线性

①选择要调校的仪器和直探头，进行校准，校准完毕后进行下一步。

②将直探头用探头压块压在DB-P   Z20-2试块上，中间加适量耦合剂，调节仪器使荧光屏显示出Ф2平底空回波，并置于屏幕的适当位置。

③用闸门套住Ф2平底空回波，调节回波至满刻度的100%，此时基准增益至少有30dB的读数。

④以每次减少2dB为准，直到衰减26dB，并记录下回波波幅从满刻度的下降量，填入下表，测量的准确度为0.1%。

⑤取出偏差值的最大正偏差值和最大负偏差值，取两个数的绝对值之和为垂直线性误差，公式为：Δd=|d(+)|+|d(-)|。

横波探测范围和扫描速度的调整

由于纵波的声程91mm相当于横波声程50mm，因此可以利用试块上91mm来调整横波的检测范围和扫描速度。例如横波1:1，先用直探头对准91底面，是B1、B2分别对准50、100，然后换上横波探头并对准R100圆弧面，找到最高回波，并调至100即可。

测定仪器和斜探头的远场分辨力

（1）探头置于如图所示位置，对准50mm、44mm、40mm阶梯孔，使示波屏上出现三个反射波。

（2）平行移动探头并调节仪器，使50mm、44mm回波等高，如图所示，其波峰和波谷分别为h1、h2，其分辨力为NB/T47013-2015中规定，斜探头的远场分辨力大于等于12分贝。

斜探头分辨力测定

测定斜探头声束轴线偏离

在CSK-ⅠA试块上厚25mm的平面上，使声束指向棱边，对于K值小于等于1的探头，声束经底面反射指向上棱角；K值大于1的声束指向下棱角，前后左右摆动探头，使所测棱边端角回波幅度最高，固定探头不动，然后用量角器或适当的方法测量斜探头几何中心声束轴线与棱边法线的夹角（例如测量探头斜面与试块端面垂直线的夹角），即为声束轴线偏斜角。应当注意：斜探头的声束扩散角较大时，可能影响到最大回波的探测，以致可能产生较大的测量误差。

斜探头声束轴线偏斜的测量

纵波探测范围和扫描速度的调整

在利用纵波探伤时，可以利用试块的已知厚度来调整探测范围和扫描速度，此过程我往往和检验时基线性同步进行。当探测范围在250mm以内时，可将探头置于25mm厚的大平底上，使四次底部回波位于刻度四，十次底部回拨位于刻度十，则刻度十就代表实际探测声程为250mm。当探测声程范围大于250mm时，可将探头置于如图的B或C处，使各次底波位于相应的刻度处，此时起始零点亦同时得到修正。

探头位置图

测定仪器和直探头的远场分辨力

• 探头置于如图所示位置，左右移动探头，调节增益，使显示屏上出现85、91、100三个反射回波A、B、C如图所示，则波峰和波谷的分贝差20Lg(a/b)表示分辨力。

  
  

  

• NB/T47013-2015中规定，直探头远场分辨力大于等于20dB。

  
  

盲区的估计

盲区是指最小的探测距离，测试方法是：将直探头置于探头位置图中D、E位置，测量50mm圆孔反射波。从而可以估计出盲区小于等于5mm或大于等于10mm，或者介于两者之间。

探头位置图

最大穿透能力估计

将直探头置于探头位置图中F位置，将仪器个灵敏度旋钮均置于最大，测试试块中有机玻璃块反射波次数和最后一次反射波高度。以此来估计最大穿透力，借以比较探伤仪器及探头组合性能随时间变化的情况。

探测灵敏度的调整

根据AVG原理，在探头探伤时可把R100mm圆弧面视为大平底反射，以此来调整探测灵敏度。直探头探伤时可把厚度为25/100mm的几个侧面视为大平底处理，以此来调整灵敏度。另外，也可以根据探伤要求，仪测量1.5mm横通孔反射波来确定灵敏度。