OmniScan X3相控阵探伤仪

OmniScan X3相控阵探伤仪

基本特性

机载TOFD(衍射时差)功能

2个UT通道

通过坠落测试,符合IP65评级标准

8组声束设置

与现有的奥林巴斯扫查器和探头相兼容

16:128PR配置或32:128PR配置

符合ISO 18563-1:2015和EN12668-1:2010

可提升效率的创新特性

通过全矩阵捕获(FMC)功能可以采集到全聚焦方法(TFM)图像（可支持64个晶片的孔径）

4GB的大文件容量，64GB的内存

精心设计的软件，大大减少了按键的次数

在单一工作流程中创建整个扫查计划

通过“单扫”方式，快速采集校准的包络线